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金屬鍍層的厚度是衡量鍍層質(zhì)量的重要指標之一，將會直接影響材料的使用性能，為了準確的評定金屬鍍層的厚度，就可以使用膜厚測試儀來進行檢測。它對樣品進行非接觸式、無損、高精度測量，可測量反射率、顏色、膜厚等參數(shù)?？蓱糜诠夥?、半導體材料、高分子材料等薄膜層的厚度測量，在半導體、太陽能、液晶面板和光學行業(yè)以及科研所和高校都得到廣泛的應用。隨著微型計算機多媒體技術(shù)的發(fā)展和普及，光學薄膜在液晶顯示屏，CRT顯示器等方面廣泛應用。為了提高光學薄膜的生產(chǎn)效率和改善產(chǎn)品質(zhì)量有必要逐步導入人工智...

華中科技大學聯(lián)合武漢頤光科技科技有限公司開發(fā)的“高精度寬光譜穆勒矩陣橢偏測量關(guān)鍵技術(shù)與納米測量應用”項目榮獲湖北省技術(shù)發(fā)明一等獎。此獎項由省人民政府設立，經(jīng)省科學技術(shù)獎勵評審委員會評審、省科學技術(shù)獎勵委員會審議，湖北省人民政府決定后終授予，旨在深入實施創(chuàng)新驅(qū)動發(fā)展戰(zhàn)略，建設創(chuàng)新強省，獎勵為省科技事業(yè)進步、經(jīng)濟社會發(fā)展作出突出貢獻的科學技術(shù)人員和組織。穆勒矩陣橢偏儀廣泛應用于IC制造、平板顯示、光電子器件、光伏太陽能、柔性電子等國家新興戰(zhàn)略產(chǎn)業(yè)中的納米材料、納米結(jié)構(gòu)與納米器件的...